由(you)透射(she)電(dian)鏡的(de)工作(zuo)原(yuan)理(li)可知(zhi)，供(gong)透(tou)射(she)電(dian)鏡分(fen)析的(de)樣(yang)品(pin)必(bi)須對(dui)電(dian)子(zi)束(shu)是(shi)透明(ming)的(de)，通(tong)常(chang)樣(yang)品(pin)觀察(cha)區域的(de)厚(hou)度(du)以控(kong)制(zhi)在(zai)約(yue)100-200nm為宜。薄(bo)片(pian)制(zhi)備(bei)系統所制(zhi)得的(de)樣(yang)品(pin)還必(bi)須具有(you)代(dai)表性以真(zhen)實反(fan)映(ying)所(suo)分(fen)析材(cai)料(liao)的(de)某些(xie)特(te)征，因此(ci)，樣(yang)品(pin)制(zhi)備(bei)時(shi)不(bu)可影響這(zhe)些(xie)特(te)征，如(ru)已(yi)產(chan)生(sheng)影響則(ze)必(bi)須知(zhi)道影響的(de)方式(shi)和程(cheng)度(du)，透(tou)射(she)電(dian)鏡樣(yang)品(pin)制(zhi)備(bei)是壹個(ge)涉(she)及面很(hen)廣(guang)的(de)題目，方(fang)法也(ye)很(hen)多(duo)。

 

    薄(bo)片(pian)制(zhi)備(bei)系統能(neng)夠提(ti)供(gong)小於(yu)3埃(ai)的(de)圖(tu)像(xiang)分(fen)辨率(lv)，這(zhe)使得失(shi)效分析實(shi)驗(yan)室(shi)能(neng)夠大幅縮(suo)減(jian)數據(ju)采集(ji)的(de)時(shi)間(jian)，而(er)不(bu)會降低(di)圖(tu)像(xiang)質(zhi)量。另外，將高分辨率(lv)成像(xiang)和(he)薄(bo)片(pian)制(zhi)備(bei)系統集(ji)中(zhong)到(dao)壹臺(tai)儀(yi)器上(shang)，有(you)效(xiao)的(de)節省(sheng)了實(shi)驗室(shi)空(kong)間(jian)。壹般(ban)多(duo)用超薄(bo)切(qie)片(pian)技(ji)術，將大尺寸(cun)材(cai)料(liao)制(zhi)成適(shi)當(dang)大(da)小的(de)超薄(bo)切(qie)片(pian)，並(bing)且(qie)利用電(dian)子(zi)染(ran)色、細(xi)胞化(hua)學、免(mian)疫標(biao)記(ji)及放射(she)自顯(xian)影等方(fang)法(fa)顯示各(ge)種超(chao)微結(jie)構(gou)、各種(zhong)化學物(wu)質(zhi)的(de)部(bu)位及其(qi)變(bian)化。對(dui)生(sheng)物(wu)大分(fen)子(zi)、細(xi)菌、病毒(du)和分(fen)離的(de)細(xi)胞器(qi)等顆(ke)粒材料(liao)，常(chang)用投影、負染(ran)色等技(ji)術(shu)以提(ti)高反(fan)差(cha)，顯(xian)示顆(ke)粒的(de)形態(tai)和微細(xi)結(jie)構(gou)。